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棋盤(pán)式畸變測(cè)試卡

熱度:11667 上市日期:2015.12.07
棋盤(pán)式畸變測(cè)試卡主要用于測(cè)試攝像頭畸變值,同時(shí)也可用于MTF測(cè)試;該測(cè)試卡和網(wǎng)格測(cè)試卡相比,具有更加直觀的測(cè)試效果。
棋盤(pán)式畸變測(cè)試卡
  • 名稱(chēng):棋盤(pán)式畸變測(cè)試卡
  • 類(lèi)別:畸變測(cè)試
  • 型號(hào):ISG-023-100A
  • 品牌:ISEETEST
  • 材料:高檔相片紙(進(jìn)口)
  • 價(jià)格:點(diǎn)擊詢(xún)價(jià)
產(chǎn)品說(shuō)明

此測(cè)試卡是在啞光相片紙上高精度(8000DPI)光學(xué)繪圖制作而成。

其實(shí)說(shuō)明:

  1. 關(guān)于棋盤(pán)卡的更多信息可以在此了解,Microsoft Lync規(guī)范中有詳細(xì)介紹。 Lync compatible devices
  2. see the Lync PC 測(cè)試規(guī)范頁(yè)可在此處下載 LyncLogoRevF.zip 文件中包括 MLVideoCaptureSpecificationRev_F_Final.pdf 在64及66頁(yè)中有介紹。
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